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Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

2016-03-18

硬體設(shè)備

半自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測(cè)設(shè)備

漏電流測(cè)試模組

電源量測(cè)單元

光學(xué)測(cè)試模組

ESD 測(cè)試模組 (選配)

Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)為針對(duì)覆晶型(Flip Chip) LED開(kāi)發(fā)的半自動(dòng)點(diǎn)測(cè)設(shè)備。特殊的無(wú)鉆孔玻璃平臺(tái)設(shè)計(jì)使得收光路徑上無(wú)任何干涉，因而達(dá)到更加精準(zhǔn)的量測(cè)。

延用致茂研發(fā)的高速精準(zhǔn)的LED全光通量的量測(cè)方式，這種創(chuàng)新的量測(cè)方式不僅比傳統(tǒng) 方式收集更多的LED部分光通量，也明顯的改善提升了量測(cè)準(zhǔn)確度。

在光學(xué)量測(cè)方面，主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等均可透過(guò)致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn) 定快速之?dāng)?shù)據(jù)；在電性測(cè)試方面，58173-FC 則具備完整之電源量測(cè)單元，無(wú)論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一次滿(mǎn)足使用者的測(cè)試需求。

58173-FC將Prober和Tester完全整合，搭配彈性調(diào)整的軟體操作界面及最佳邏輯演算法使得生產(chǎn) 效益大幅提升；完善的量產(chǎn)測(cè)試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具可以讓使用者用輕松掌握生產(chǎn)狀況。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司作為臺(tái)灣Chroma公司湖南區(qū)域的總代理，以下為長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您簡(jiǎn)單介紹Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)及產(chǎn)品特點(diǎn)，如果您想對(duì)Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有更多的了解，歡迎致電長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。更多產(chǎn)品信息歡迎點(diǎn)擊：easygofood.com。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司。